高低溫試驗箱可以用來(lái)考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內溫度的均勻性。為限制輻射影響,設備內壁各部分溫度與試驗規定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會(huì )受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。
高低溫試驗箱
高低溫試驗箱產(chǎn)品說(shuō)明
隨著(zhù)現代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電工、電子產(chǎn)品的應用領(lǐng)域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來(lái)愈復雜多樣。只有合理地規定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施,才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞,在使用過(guò)程中安全可靠。因而,電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節。人工模擬環(huán)境試驗是實(shí)際環(huán)境影響的科學(xué)概括,具有典型化、規范化、使用方便、便于比較等特點(diǎn)。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設備提出了更嚴格的要求。
可以用來(lái)考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內溫度的均勻性。為限制輻射影響,設備內壁各部分溫度與試驗規定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會(huì )受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。
參照標準
滿(mǎn)足GB2423.1-2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2-2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關(guān)標準的要求。嚴格按GB 10592—89《技術(shù)條件》進(jìn)行設計制造,可進(jìn)行相應高、低溫環(huán)境試驗。
主要技術(shù)參數
型號: GDW-100C型
工作室尺寸(D×W×H): 400×500×500㎜
外型尺寸(D×W×H): 1050×1000×1550㎜
溫度范圍: -40℃~100℃
溫度均勻度: ≤ 2℃ (空載時(shí))
溫度波動(dòng)度: ±0.5℃ (空載時(shí))
溫度偏差: ≤±2℃
升降溫速率: 0.7℃~1.0℃/min (空載時(shí))
時(shí)間設定范圍: 0~999 小時(shí)